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          產品中心

          PRODUCTS

          產品:LUNA 6415 光器件分析儀

          Luna 6415光器件分析儀采用光頻域反射技術(OFDR),通過探測背向瑞利散射光或者透射光獲取其與距離的函數關系。Luna 6415作為光子集成電路和硅光芯片的理想分析儀,得益于其超高的靈敏度和空間分辨率(20μm)。Luna6415單臺儀器通過選擇反射或者透射模式就能完成IL、RL、長度等所有測試,大大降低了測試成本,同時簡化了測試流程。相比其它測試系統,將大大增加測試產量。

          回損(RL)和插損(IL)分析

          反射和透射模式分析器件

          光路長度方向上的回損分布

          RL和IL的光譜分析

          探測和精準定位反射事件和測量光路長度(長達100米)

          優化生產測試的速度、空間分辨率和精度:20μm采樣分辨率

          RL空間分布測試

          IL自動測試和分析

          延遲測量分辨率可達亞皮秒

          PLCs、光波導器件、AWGs和ROADMs等測試

          耦合器、光開關和分束器等測試

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